厚度計

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厚度計(thickness gauge)，用於測量板材、帶材、管材、片狀物、塗層和鍍層等厚度的機械量測量儀錶。常用的厚度計有核輻射厚度計、X 射線厚度計、高頻渦流式厚度計、微波式厚度計和滾輪接觸式電感厚度計。

核輻射厚度計 　核輻射厚度計分為兩類。一類是利用β、γ等核輻射線穿透被測材料時被吸收而發生強度變化來測量厚度的；另一類是利用核輻射線反散射原理的，射線穿過物質時發生散射現象，當散射角超過90°時便產生反散射，而反散射強度與材料厚度有關，測出從材料反散射的射線強度即可測出厚度。圖1為核輻射穿透式厚度計。放射源發出的射線透過被測材料後被探測器吸收，探測器產生相應於厚度的電流I_X，它在R上的壓降為E_X，經與定值器設定厚度相對應的電壓E_S比較後，偏差（即厚度變化量）經放大後送給顯示儀錶或調節儀錶進行顯示或控制。用β射線作為放射源的厚度計測量範圍較窄，適用於測量較薄的鋼帶、銅帶、紙張、塑料和橡膠等的厚度。用γ射線作為放射源的厚度計測量範圍寬，能用於惡劣環境下，不受煙氣、蒸汽和水分等影響，但需要對核輻射採取防護措施。

　　X射線厚度計 　X射線厚度計的工作原理是通過測量透過板材的X射線強度來確定厚度。X射線束細，響應速度快，切斷電源後X射線立即消失。因此，這種厚度計使用和儲存均比核輻射式方便和安全，而且因被測板材表面可能存在的水膜引起的誤差比較小。
　　高頻渦流式厚度計 　為減少被測材料在運動中因抖動引起測量結果的誤差，故採用差動測量方式。接近被測金屬材料表面的檢測線圈L與測量電路中的電容構成諧振迴路，而在線圈中產生高頻交變磁場，並在被測金屬中感應出渦流。渦流損耗與被測金屬材料的表面到檢測線圈距離x₁、x₂ 有關。渦流產生的感應電磁場又反作用於線圈L上，使其品質因素Q值、等效阻抗Z、等效電感L都發生相應的改變。通過測量電路將Q值、Z值或L值轉變為檢波信號電壓的幅值或頻率值變化，經加法器運算後即可測出厚度t。這種厚度計有較高的動態精度。
　　微波式厚度計 　微波式厚度計的工作原理是：微波從測量迴路依次射向被測材料的兩個表面，反射後送到測量反射波的接收器。當被測材料厚度變化時，測量迴路微波所經過的長度也有變化。它與設定的補償迴路的信號比較後，經檢波輸出。微波式厚度計既可實現不接觸測量，又不受被測材料性質的影響。缺點是受周圍水氣影響較大。
　　滾輪接觸式電感厚度計 　用於測量帶材或板材的厚度。當被測材料通過由一活動和一固定滾輪組成的滾輪組之間時，工件厚度的變化引起活動滾輪徑向位移。此位移推動電感感測器的鐵芯，使電感線圈產生與厚度成比例的輸出信號並顯示出來。這種測量方法精度較高，且與被測材料的物理化學性質無關，但滾輪容易損傷被測表面。

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